MTI  |  SKU: SKCH-D

Controllo dello spessore di precisione con quadrante da 0,001 mm / Indicatore digitale - SKCH

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Controllo dello spessore di precisione con quadrante da 0,001 mm / Indicatore digitale - SKCH

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EQ-SKCH è un dispositivo semplice, economico e di precisione per la misurazione dello spessore di wafer di cristallo e di qualsiasi campione durante la lappatura e la lucidatura, che può essere utilizzato anche per misurare l'espansione termica della batteria a stato solido. L'apparecchio è costituito da un dispositivo di precisione granito granito di precisione e micrometro di precisione a quadrante o digitale con una risoluzione di 0,001 mm.

 Piastra di base 
  • Piastra piatta in granito lucidato: 155 mm L x 210 mm L
 Testa del micrometro
  • Selezionare il micrometro nella barra opzionale: Micrometro a quadrante o digitale.
  • Micrometro a quadrante meccanico: risoluzione di 1 micron (0,001 mm). (Fig.1)
  • Micrometro digitale: risoluzione di 0,5 micron (0,0005 mm); portata: 1,2" (30,5 mm); precisione: 0,0015 mm. (Fig. 2)
  • Temperatura di funzionamento: 0 - 40 °C
  • Altezza regolabile della testa: 250 mm
Fig.1 Figura 2
Peso della spedizione
  •    18 libbre
Dimensioni
  • 155 x 205 x 310 (mm L x L x A)
  • La distanza massima tra la base e la punta del micrometro varia.
Nota applicativa