MTI  |  SKU: STC-PQW

Cella divisa con finestra al quarzo per l'analisi al microscopio ottico in situ dell'interfaccia dell'elettrodo della batteria - STC-PQW

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Cella divisa con finestra al quarzo per l'analisi al microscopio ottico in situ dell'interfaccia dell'elettrodo della batteria - STC-PQW

MTI

La cella di prova divisa EQ-STC-PQW è realizzata in plastica PEEK (Poli Etere Etere Chetone) e progettata per la ricerca e lo sviluppo di materiali per batterie ricaricabili. Quartz Window con un diametro di 38,1 mm. sulla parte superiore consente la finestra a sfioramento della testa del microscopio ottico per l'analisi in situ della variazione della microstruttura dell'elettrodo della batteria o della crescita dei dendriti durante la carica e la scarica. Questa cella può essere utilizzata per diversi tipi di elettrodi e separatori. e testare gli elettrodi in modo semplice e rapido.

SPECIFICHE:

Materiale della cella PEEK (Poli Etere Etere Chetone), che è un semicristallino termoplastico con eccellenti proprietà di resistenza meccanica e chimica, che si mantengono fino alle alte temperature.
Caratteristiche
  
  • Sigillato da O-ring FKM a prova di elettrolito e di corrosione.
  • Abbastanza piccolo da poter essere inserito ed estratto da una scatola di guanti.
  • Facile da separare e pulire dopo il test.
  • Utilizzare un microscopio ottico per vedere la crescita dei dendriti in situ. 
Finestra di osservazione in quarzo

  • Diametro = 38,1 mm
  • Spessore = 1,00 mm
Struttura e dettagli   (Fare clic sull'immagine per ingrandirla)
Disegno

  (Fare clic sull'immagine per i dettagli)
Video operativo     (Fare clic per il video del funzionamento)        
Note applicative
  • Per una migliore osservazione in situ, il materiale dell'elettrodo deve essere rivolto verso la finestra. È possibile utilizzare la pressa da laboratorio e gli stampi di pressatura a secco sotto riportati per preparare un pellet di elettrodi invece di utilizzare un foglio di Al o Cu rivestito di elettrodi.
  • Opzionale: Acquistare un penna a vuoto per facilitare il posizionamento dei componenti.
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  • PEEK VS. LAVORAZIONE DEL TEFLON PTFE/FEP