MTI | SKU:
TM106-LD
Monitor di spessore e velocità di deposizione di film sottili in situ con software e sensore opzionale, cristalli di quarzo - TM106-LD
€4.480,40
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Monitor di spessore e velocità di deposizione di film sottili in situ con software e sensore opzionale, cristalli di quarzo - TM106-LD
MTI
EQ-TM106-LD è un sensore/monitor di spessore ad alta precisione per il processo di deposizione di film sottili. Si basa sul principio che la massa di un film depositato su un cristallo di quarzo può essere misurata monitorando la variazione della frequenza di oscillazione del cristallo. Se la densità del materiale depositato è nota, lo spessore può essere determinato con un'alta risoluzione sub-Angstrom (0,037 Å per questa apparecchiatura).
SPECIFICHE:
ELENCO DELLE PARTI:
SPECIFICHE:
Potenza |
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Gamma di frequenza |
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Risoluzione di frequenza |
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Velocità di misura |
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Stabilità della frequenza di riferimento |
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Risoluzione dello spessore e della frequenza |
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Risoluzione del display |
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Temperatura di esercizio |
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Flusso d'acqua richiesto |
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Alimentazione dell'acqua |
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Pacchetto standard |
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Cristalli di quarzo (opzionali)
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Sistema operativo |
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Software |
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Installazione | ![]() ![]() |
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Conformità | Certificato CE (assemblato negli USA) | ||||||||
Dimensioni di produzione |
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Peso del monitor |
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Garanzia |
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Istruzioni per il funzionamento | ![]() |
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Note applicative![]() |
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ELENCO DELLE PARTI:
No. | Descrizione | Quantità |
1 |
STM-2 monitor di velocità/spessore | 1 |
2 |