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SC4Hz50D033C2US
SiC - 4H (0001), diametro 2" x0,33 mm, due lati lucidati - SC4Hz50D033C2US
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SiC - 4H (0001), diametro 2" x0,33 mm, due lati lucidati - SC4Hz50D033C2US
MTI
Specifiche del substrato
- Orientamento: <0001> ±30?
- Orientamento dei bordi : <11-20>±1°<10-10>±1°
- Dimensioni: 2"+/-0,15mm x 0,33 +/-0,05mm
- Lucidatura: due lati lucidati
- Rugosità superficiale: < 5 A con AFM
Proprietà tipiche del SiC a cristallo singolo
- Peso della formula: 40,10
- Cella unitaria: esagonale
- Costante di Lattice: a =3,07 A c = 10,53 A
- Sequenza di impilamento: ABCB (4H)
- Tecnica di crescita: MOCVD
- Lucidatura: superficie di silicio lucidata con EPI
- Band Gap: 3,26eV (indiretto)
- Tipo di conducibilità: N
- TTV/Bow/Warp: <=35 um
- Densità dei microtubi: <=30 cm^-2
- Resistività: 0,015~0,5 ohm-cm
- Costante dielettrica: e (11) = e (22) = 9,66 e (33) = 10,33
- Conduttività termica a 300K: 4W / cm . K
- Durezza: 9 Mohs
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