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IPScA50D05C1US
InP - (cresciuto in VGF), (111)A, drogato con S, wafer da 2" x 0,5 mm, 1sp - IPScA50D05C1US
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InP - (cresciuto in VGF), (111)A, drogato con S, wafer da 2" x 0,5 mm, 1sp - IPScA50D05C1US
MTI
- Wafer a cristallo singolo di InP
- Metodo di crescita: VGF
- Orientamento: (111)A
- Dimensioni: 2" di diametro x 0,5 mm
- Doping: Drogato S
- Tipo di conduzione: S-C-N
- Lucidatura: un lato lucidato
- Resistività: (0,87-1,19)x10^-3 ohm.cm
- Mobilità: 1400-1670 cmE2/V.S
- EPD: N/A
- Concentrazione del vettore: (3,15-5,15) x10^18 /cm^3
- Rugosità superficiale: <4 nm
- Superficie e imballaggio pronti per l'EPI
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